EMC测试

EMC测试

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智能手机EMC测试

智能手机EMC测试

2025-05-26 微析研究院 EMC测试

服务地区:全国

报告类型:电子报告、纸质报告

报告语言:中文报告、英文报告、中英文报告

取样方式:快递邮寄或上门取样

样品要求:样品数量及规格等视检测项而定

注:因业务调整,微析暂不接受个人委托项目。

北京微析技术研究院进行的相关[智能手机EMC测试],可出具严谨、合法、合规的第三方检测报告。

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智能手机EMC测试是评估其在电磁环境中兼容性的关键环节,包括电磁干扰(EMI)和抗干扰能力(EMS)两方面。

测试涵盖传导发射、辐射发射、静电放电抗扰度、射频场感应抗扰度等项目,确保设备工作时既不对其他设备产生干扰,也能抵抗外部电磁影响。

测试依据国际标准(如CISPR、IEC)和国内标准(如GB/T),应用于产品研发、质量认证及入网合规等场景,保障智能手机在复杂电磁环境中的稳定性和可靠性。

智能手机EMC测试项目介绍

智能手机EMC测试旨在验证其电磁兼容性,确保设备在预期电磁环境中正常运行,同时不干扰其他设备。测试分为电磁发射(EMI)和抗扰度(EMS)两大类。

EMI测试重点检测设备产生的电磁干扰强度,例如通过传导和辐射方式泄露的噪声;EMS测试则评估设备抵抗外部电磁干扰(如静电放电、射频场干扰)的能力。

测试需模拟真实使用场景,包括充电、通话、数据传输等多种工作状态,覆盖从低频到高频的宽频段范围,确保全场景合规。

智能手机EMC测试项目种类

1、传导发射(CE):测量通过电源线或信号线传导的电磁干扰

2、辐射发射(RE):检测设备向空间辐射的电磁场强度

3、静电放电抗扰度(ESD):模拟人体或物体静电放电对设备的影响

4、射频场感应的传导抗扰度(CS):评估设备对耦合到线缆上的射频干扰的耐受性

5、射频电磁场辐射抗扰度(RS):测试设备在强射频场环境中的工作稳定性

6、电快速瞬变脉冲群(EFT):验证设备对电网开关瞬态干扰的抵抗能力

智能手机EMC测试所需样品

1、整机样品:至少3台未拆封的成品手机,包含电池

2、配套充电器:原装充电适配器及数据线

3、外围设备:配套使用的耳机、智能手表等配件

4、特殊配置:支持5G/Wi-Fi/蓝牙等不同通信制式的版本

5、测试模式软件:预装专用测试固件,支持强制全功率发射模式

智能手机EMC测试方法步骤

1、样品预处理:在标准温湿度环境(23±5℃, 30-60%RH)中静置24小时

2、测试布置:在电波暗室中使用标准天线距离(3m/10m)搭建测试系统

3、发射测试:通过接收机和频谱仪测量传导/辐射发射值

4、抗扰度测试:使用静电枪、信号发生器施加干扰信号

5、性能监测:实时监测通话质量、触摸屏响应等关键功能

6、数据记录:保存峰值、准峰值和平均值等关键参数

智能手机EMC测试依据标准

1、CISPR 22: 信息技术设备无线电骚扰特性限值

2、EN 55032: 多媒体设备电磁兼容发射要求

3、EN 55035: 多媒体设备抗扰度要求

4、EN 61000-4-2: 静电放电抗扰度试验(接触放电±8kV,空气放电±15kV)

5、EN 61000-4-3: 射频电磁场辐射抗扰度(80MHz-6GHz,3V/m)

6、EN 61000-4-4: 电快速瞬变脉冲群抗扰度(电源端口±2kV)

7、EN 61000-4-5: 浪涌抗扰度试验(电源端口±1kV线对地)

8、EN 61000-4-6: 射频场感应的传导骚扰抗扰度(150kHz-80MHz)

9、GB/T 17626系列:对应IEC 61000-4系列国家标准

10、YD/T 1595.1:移动通信终端电磁兼容性要求

11、FCC Part 15:美国无线电频率设备合规标准

12、IEC 61000-4-21:混响室测试方法

智能手机EMC测试服务周期

常规测试周期为5-10个工作日,具体取决于:

1、测试项目数量:全项测试比单项多2-3天

2、整改需求:若初次测试不合格,整改后复测增加3-5天

3、加急服务:支付额外费用可缩短至3个工作日出报告

4、认证周期:涉及CTA入网认证时需额外增加7天审核时间

智能手机EMC测试应用场景

1、研发验证:产品设计阶段排查电磁设计缺陷

2、型式检验:量产前强制性合规检测

3、入网认证:申请工信部CTA入网许可的必要条件

4、出口认证:满足CE/FCC等国际市场准入要求

5、质量抽查:应对市场监管部门的随机抽检

6、竞品分析:对比同类产品的电磁兼容性能差异

检测服务流程

SERVICE PROCESS

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1、确定需求
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3、分析检测
样品分析/检测,技术工程师开始制作分析汇总报告
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4、出具报告
寄送报告,工程师主动售后回访,解决您的售后疑惑
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服务众多客户解决技术难题

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